电子产品快速温度变化试验箱将高温和低温以设定的时间频率进行切换，让被检测样品能够在温度快速变化的情况下运行，检测样品在快速温变后发生的变化。而且有些产品在模拟的温度变化的环境下,一些潜存在产品深处的问题都会慢慢暴露出来，就比如材料问题、制作工艺等。

电子产品快速温度变化试验箱满足标准：

GB/T 10592-2008高低温试验箱技术条件

GB/T 2423.1-2008低温试验方法

GB/T 2423.1-2008高温试验方法

GJB150.3A-2009高温试验

GJB150.4A-2009低温试验

GJN1032-1990环境应力筛选方法

快速老化箱温度范围可选择：-70℃~+150℃，-60℃~+150℃，-40℃~+150℃，-20℃~+150℃，0℃~+150℃；可选择适合自己产品常用的温度范围。升降温速率也可根据客户的要求定制。

湿度范围：20%~98%；RH相对温湿度可调范围请参考温湿度范围图，业务员做的报价方案上有详细参考。

升降温速率：1℃~15℃/min的中间任意一个指标都可以根据客户要求的定制，性线非线性可定。

温度波动度：±0.5℃满足标准、行业标准等。

温度偏差：±2℃满足 标准、行业标准等。

快速老化箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用于科研、学校、工厂、等单位用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。如需要购买与了解随时欢迎惠顾与咨询。