电子产品高温老化房是针对电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、计算机、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等，通过此测试程序可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段。

电子产品高温老化房技术参数：

内箱尺寸：3000 *1700 *1100mm      (W* H *D)

满足标准：·GB/TT2423.2-2008试验B:高温试验方法等

温度范围：RT+20～100℃

升降温速率：(非线性 空载)约3℃/min

温度稳定度：±0.5℃

温度解析精度：0.01℃

温度均匀度：±2.0℃

高温超温保护：运转控制温度高、低温过温保护设定

测试区超温保护：加装超温保护装置，以防控制器有异常状况发生时导致温度过高损坏测试样品。

故障检知控制界面：外部故障自动侦测保护装置

动态高低温保护：配合设定条件动态调整高低温保护值.

常温保护：停机后机台待测品＆测试区自动降常温保护

内外箱材质：测试区内箱不锈钢板 (SUS#304)，外箱烤漆或不锈钢

同温层结构设计：有效避免箱体顶部凝结之技术

测试孔：可外接测试电源线及信号用 (直径50mm)

机台滑轮：采滑轮移动调整摆放位置与强力螺栓固定位置(200Kg / 轮 )